電子和機械組件

DETAIL
您可能有一個公司內部構建的 IGBT 測試設備,需要升級以測試快速開關 SiC 模塊。 您是否有一個不錯的曲線跟踪器,但由於隨之而來的固定裝置不好而無法真正使用? Hollander Research 可以為您提供經過測試證明的(定制)夾具、傳感器和校準器。
夾具
我們可以為您提供我們在測試設備中使用的夾具和定制夾具。 這些夾具由電力電子工程師設計並精密加工。 低電感夾具的寄生元件非常低且定義明確。 可選的集成加熱器與特殊材料和精心的熱佈局相結合,可在遠高於 300°C 的溫度下測試 DUT。 Hollander Research 擁有一系列有趣的夾具組合,適用於在高電流和高電壓下運行的裸芯片、分立封裝和模塊。
低電感直流鏈路
IGBT 測試設備中使用的直流鏈路通常不能與快速開關 SiC 器件結合使用,因為這會導致器件上的過壓和超出可接受限度的寄生振盪。 此外,測量條件不可能代表應用。 Hollander Research 可以為您提供符合您(和 SiC 器件)需求的低電感直流鏈路(佈局或參考設計)。
去歪斜校準器
導致開關能量測量不准確的主要原因之一是電流和電壓信號採集之間的相對偏差。 Hollander Research 對開關能量測量的準確性進行了深入研究,並已在斯德哥爾摩舉行的 ISiCPEAW 2015 會議上進行了介紹。 可以使用 Hollander Research 提供的去偏校準器準確補償這種偏斜。