半導體功率循環系統
DETAIL
在功率循環測試室中，多達 20 個功率半導體模塊暴露在由半導體內部功耗引起的循環熱應力下。
這種破壞性測試的目的是表徵模塊的功率循環能力，並提供損壞的測試樣本以供進一步分析，以了解故障的物理特性，這是可靠性改進的基礎。 電源循環系統為被測設備提供循環電流波形，並讀取產生的通態電壓、測試電流和溫度。 這些測量數據存儲在日誌文件中，是功率循環能力量化的基礎。
電源循環系統是一個強大的控制單元與遠程測試室的組合，為被測設備提供了空間和靈活的佈局。
在功率循環測試室中，多達 20 個功率半導體模塊暴露在由半導體內部功耗引起的循環熱應力下。
這種破壞性測試的目的是表徵模塊的功率循環能力，並提供損壞的測試樣本以供進一步分析，以了解故障的物理特性，這是可靠性改進的基礎。 電源循環系統為被測設備提供循環電流波形，並讀取產生的通態電壓、測試電流和溫度。 這些測量數據存儲在日誌文件中，是功率循環能力量化的基礎。
電源循環系統是一個強大的控制單元與遠程測試室的組合，為被測設備提供了空間和靈活的佈局。